蔡司高分辨三维X射线显微镜Xradia 610 & 620 Vers在科研和工业研究领域为您开启多样化应用的新高度。基于高分辨率和衬度成像技术，Xradia 610 & 620 Versa 大大拓展了亚微米级无损成像的研究界限。
  采用光学加几何两级放大成像架构，可实现大样品高分辨率成像。闪烁体和光学物镜耦合技术可实现高衬度和增强的相位衬度成像。基于高分辨率和衬度，蔡司X射线显微镜 Xradia 600 系列 Versa 拓展了无损成像的研究界限，提高研究灵活性，加快研究进展。
  创新的数据采集工作流让您无需对样品进行切割即可实现对搜索合发现的感兴趣区域进行高分辨成像。