使您的扫描电镜具备强大的洞察力
通过样品台减速技术（Tandem decel，新型蔡司Gemini电子光学系统的一项功能）实现低电压电子束分辨率提升高达30%。
使用蔡司扫描电镜Crossbeam500蔡司场发射扫描电镜的电子光学系统，您可以从高分辨率扫描电镜（SEM）图像中获取真实的样品信息。
在进行高度灵敏表面二维成像或三维断层成像时，您可以信赖蔡司双束电镜Crossbeam系列的性能。
即使在使用非常低的加速电压时也可获得高分辨率、高对比度和高信噪比的清晰图像。
借助一系列的探测器实现样品的全方位表征；使用独特的Inlens EsB探测器获得更纯的材料成分衬度。
使用低电压表征不导电样品，消除荷电效应的影响。